近日，皓天試驗設(shè)備成功完成新項目交付，為國內(nèi)新建半導(dǎo)體可靠性實驗室提供一站式環(huán)境可靠性測試設(shè)備整體解決方案，成套高精度環(huán)境試驗設(shè)備陸續(xù)進(jìn)場安裝調(diào)試，將全面支撐封裝芯片、功率器件、車載 IC 等產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)化可靠性驗證工作。

隨著國內(nèi)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)加速發(fā)展，芯片國產(chǎn)化進(jìn)程持續(xù)推進(jìn)，各類新建封測企業(yè)、半導(dǎo)體研發(fā)機構(gòu)對于標(biāo)準(zhǔn)化可靠性實驗室的建設(shè)需求持續(xù)增長。傳統(tǒng)多品牌零散采購模式，普遍存在控制系統(tǒng)不統(tǒng)一、數(shù)據(jù)協(xié)議無法互通、多方售后協(xié)調(diào)繁瑣、設(shè)備工況標(biāo)準(zhǔn)難以對齊等痛點。針對該難點，我司依托全系列環(huán)境試驗設(shè)備研發(fā)制造能力，結(jié)合JEDEC JESD22、AEC-Q100等半導(dǎo)體行業(yè)通用測試規(guī)范，為客戶定制一體化設(shè)備配套方案。本次交付設(shè)備涵蓋 HAST 高壓加速老化試驗箱、兩箱式冷熱沖擊試驗箱、快速溫變試驗箱、高精度恒溫恒濕試驗箱、高溫老化試驗箱等主流機型。

整套設(shè)備可完整覆蓋溫度循環(huán)、冷熱沖擊、高加速濕熱應(yīng)力篩選、長期溫濕老化等核心測試項目，用于快速激發(fā)芯片封裝分層、引腳腐蝕、虛焊、參數(shù)漂移等隱性缺陷，滿足消費級、工業(yè)級以及車規(guī)級半導(dǎo)體元器件研發(fā)、來料驗證、量產(chǎn)可靠性篩選需求。所有機型針對半導(dǎo)體精密測試場景優(yōu)化，具備溫度控制精度高、溫場均勻性優(yōu)良、長時間連續(xù)穩(wěn)定運行等優(yōu)勢，保障試驗數(shù)據(jù)可復(fù)現(xiàn)、可溯源。

區(qū)別于單純的設(shè)備供貨，本次項目同步提供實驗室布局規(guī)劃、設(shè)備選型指導(dǎo)、安裝調(diào)試、操作人員培訓(xùn)、定期校準(zhǔn)維保在內(nèi)的全流程配套服務(wù)，真正實現(xiàn)從方案設(shè)計到長期運維的一站式落地。

未來，皓天將持續(xù)深耕半導(dǎo)體、汽車電子、新能源等高精尖賽道，不斷優(yōu)化高精密可靠性測試設(shè)備技術(shù)，持續(xù)輸出標(biāo)準(zhǔn)化、定制化一體化測試解決方案，助力國內(nèi)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)可靠性驗證體系，加速測試裝備國產(chǎn)替代進(jìn)程。